Cílem setkání je vytvořit platformu pro vědecké přednášky z různých pracovišť a univerzit, prezentaci reálných aplikací elektronové mikroskopie a výměnu zkušeností mezi akademickým sektorem a průmyslovými partnery. Workshop nabídne inspirativní pohledy na současný materiálový výzkum i možnosti jeho praktického využití.
V rámci registrace mají účastníci možnost zvolit účast na živé demonstraci práce s elektronovým mikroskopem, kterou povedou odborníci z Fakulty stavební ČVUT. Ukázka se zaměří na konkrétní příklady materiálového výzkumu a praktické využití přístrojů v akademickém prostředí.
Registrace probíhá prostřednictvím registračního formuláře níže, kde si zároveň můžete zvolit účast na živé demonstraci.
Všichni účastníci obdrží potvrzení o účasti a občerstvení bude zajištěno po celý den programu.
Program
09:00 - 09:15 Úvod do semináře
Jiří Němeček - Katedra mechaniky, Fakulta stavební, ČVUT v Praze
Michal Klášterecký - Area Sales Manager, Tescan
09:15 - 09:45 3D FIB-SEM and SBFI Analysis of Wood Adhesive Joints
Martin Böhm - Katedra materiálového inženýrství a chemie , Fakulta stavební, ČVUT v Praze
09:45 - 10:15 In-person English Our experience with integrated FIB and Micro-CT workflows
Jolanta Rajca, Uni of Silesia, Katowice, Polsko
10:15 - 10:30 Coffee Break
10:30 - 11:00 In-person English Practical case studies from our work at SPIN-Lab using TESCAN instruments (CLARA incl. Raman)
Marcin Libera, Uni of Silesia, Katowice, Polsko
11:00 - 11:30 Automated SEM and FIB-SEM Workflows for Greater Access, Higher Throughput, and New Applications
Martin Sláma, Tescan
11:30 - 12:30 Oběd
12:30 - 13:00
Aplikační inženýr, Tescan
13:00 - 13:30 Nejnovější instalace pFIBu v ČR
Michal Urbánek/Ondřej Man, Ceitec BUT
13:30 - 14:00 AMBER + 4D STEM detektor
Doc. Stanislav Haviar, ZČU Plzeň
14:00 - 14:15 Coffee Break
14:15 – 14:45 Online English My group's experience with the micro-CT
Laura Dalton, Duke Uni, USA
15:00 – AMBER X 1st group practical demonstration
15:30 – AMBER X 2nd group practical demonstration
16:00 – Závěr
