Cílem setkání je vytvořit platformu pro vědecké přednášky z různých pracovišť a univerzit, prezentaci reálných aplikací elektronové mikroskopie a výměnu zkušeností mezi akademickým sektorem a průmyslovými partnery. Workshop nabídne inspirativní pohledy na současný materiálový výzkum i možnosti jeho praktického využití.
V rámci registrace mají účastníci možnost zvolit účast na živé demonstraci práce s elektronovým mikroskopem, kterou povedou odborníci z Fakulty stavební ČVUT. Ukázka se zaměří na konkrétní příklady materiálového výzkumu a praktické využití přístrojů v akademickém prostředí.
Registrace probíhá prostřednictvím registračního formuláře níže, kde si zároveň můžete zvolit účast na živé demonstraci.
Všichni účastníci obdrží potvrzení o účasti a občerstvení bude zajištěno po celý den programu.
Program
09:00 - 09:15 | Úvod do semináře
Jiří Němeček, Katedra mechaniky, Fakulta stavební, ČVUT v Praze
Michal Klášterecký, Area Sales Manager, Tescan
09:15 - 09:45 | 3D FIB-SEM and SBFI Analysis of Wood Adhesive Joints
Martin Böhm, Katedra materiálového inženýrství a chemie , Fakulta stavební, ČVUT v Praze
09:45 - 10:15 | (In-person English) A correlative workflow integrating micro-CT (ROI identification) with subsequent targeted FIB-SEM sectioning/analysis
Jolanta Rajca, Uni of Silesia, Katowice, Polsko
10:15 - 10:30 | coffee Break
10:30 - 11:00 | (In-person English) Practical case studies from our work at SPIN-Lab using Tescan instruments (CLARA incl. Raman)
Marcin Libera, Uni of Silesia, Katowice, Polsko
11:00 - 11:30 | Automated SEM and FIB-SEM Workflows for Greater Access, Higher Throughput, and New Applications
Martin Sláma, Tescan
11:30 - 12:30 | Oběd
12:30 - 13:00 | Opportunities and Perspectives for Advanced Analysis of Sputter-Deposited Thin Films Using the Tescan AMBER FIB-SEM Microscope with a 4D-STEM Detector
Stanislav Haviar, ZČU Plzeň
13:00 - 13:30 | New installation of Tescan AMBER X2 FIB-SEM in CEITEC Nano research infrastructure
Ondřej Man, Deputy CEITEC Nano head, CEITEC BUT Brno
13:30 - 14:15 | Coffee Break
14:15 – 14:45 | (Online English) My group's experience with the micro-CT
Laura Dalton, Duke Uni, USA
15:00 | 1. skupina Tescan AMBER X Plasma FIB-SEM praktická ukázka v demolaboratoři
15:30 | 2. skupina Tescan AMBER X Plasma FIB-SEM praktická ukázka v demolaboratoři
16:00 | Závěr
